 | - Химический анализ
– Силикатный анализ Подробнее позволяет определить валовый химический состав горных пород, руд, продуктов и отходов их переработки. Анализ проводится фотометрическим, титриметрическим и атомно-эмиссионным методом.
Пробоподготовка включает в себя дробление и истирание проб.
Масса истертой пробы на анализ не менее 10 г.
Определяемые компоненты: SiO2, TiO2, Al2O3, Fe2O3, FeO, CaO, MgO, MnO, P2O5, Na2O, K2O, потери при прокаливании (ППП), гигроскопическая влага (H2O–). Также отдельно определяются S, CO2, F.
Оборудование: фотометр фотоэлектрический КФК-3-«ЗОМЗ»; оптико-эмиссионный спектрометр «Varian 720-ES».
– Атомно-абсорбционный спектральный анализ (AAS) Подробнее метод аналитической химии, основанный на селективном поглощении (абсорбции) электромагнитного излучения определенной длины волны свободными от всех молекулярных связей нейтральными атомами определяемого элемента.
Пробоподготовка включает в себя дробление и истирание проб.
Масса истертой пробы на анализ не менее 1 г.
Определяемые компоненты: Cu, Cd, Zn, Pb, Ni, Co, Fe, Mn, Au, Ag.
Оборудование: атомно-абсорбционный спектрометр «Perkin Elmer 3110»; атомно-абсорбционный спектрометр «Analyst 400 (Perkin Elmer)»
– Масс-спектроскопия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-MS) Подробнее – разновидность масс-спектрометрии, отличающаяся высокой чувствительностью и способностью определять ряд металлов и нескольких неметаллов в концентрациях до 10?10%. Метод основан на использовании индуктивно-связанной плазмы в качестве источника ионов и масс-спектрометра для их разделения и детектирования.
Пробоподготовка включает в себя дробление и истирание проб.
Масса истертой пробы на анализ не менее 200 мг.
Определяемые компоненты: Li, Be, B, Al, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, As, Se, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Ta, W, Tl, Pb, Bi, Th, U.
Оборудование: квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7700x
– Масс-спектроскопия с индуктивно-связанной плазмой и лазерным пробоотбором (LA-ICP-MS) Подробнее – разновидность метода ICP-MS, позволяющая анализировать содержания редких элементов в локальной точке образца. Для получения взвеси анализируемого масс-спектрометром вещества используется приставка для лазерного испарения с поверхности препарата (laser ablation). Сущность метода заключается в получении небольших количеств анализируемого материала, путем его локальной абляции с твердой поверхности, и последующем переносе газами в индуктивно-связанную плазму с температурами свыше 6000 ?С для атомизации вещества, с дальнейшей ионизацией атомов, разделением и детектированием на масс-спектрометре.
Пробоподготовка включает в себя дробление и истирание проб.
Масса истертой пробы на анализ не менее 200 мг.
Определяемые компоненты: Li, Be, B, Al, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, As, Se, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Ta, W, Tl, Pb, Bi, Th, U.
Оборудование: приставка лазерной абляции New Wave Research UP-213; квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7700x
|
